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地矿分析

  在研究地球行程过程中,地质学家通常分析岩石和矿物成分及其分子结构。长期作为地质研究中心工具的X射线分析技术有了小斑点激发,mapping和无标定量分析功能。X射线荧光是表征地质材料元素组成的关键技术。最新一代波长色散型XRF仪器使用微小区域分析和XY自动样品台进行多样品自动测量形成成分分布图。采用X射线衍射仪(XRD),可进行物相分析。Rietveld方法是现在公认的最权威的物相定量分析方法。理学专业技术和经验为这些工作提供了一系列解决方案。


XRF
  • 低成本: Primini

  • Mapping: ZSX Primus, ZSX Primus II

  • 无标样分析: Primini, ZSX Primus, ZSX Primus II, Simultix 14

  • 高通量: Simultix 14


XRD
  • 低成本分析: MiniFlex™

  • 高性能分析: SmartLab®, Ultima IV