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元素分析

  无损元素分析—固体,液体,粉末和薄膜—从ppm到百分含量

  X射线荧光技术是判定各种材料的化学组成最简单,最精确且最经济的分析方法之一。该技术无损,对样品制备要求小,且几乎适合所有种类样品。XRF测量元素范围宽可从Be到U,且具有较低的检测限。

   理学提供全系列XRF产品,包括台式波长色散型X射线荧光(Supermini),高功率顺序扫描式X射线荧光 (ZSX Primus系列) , 高通量多通道型X射线荧光(Smultix14)和台式高功率全反射X射线荧光(Nanohunter)用于痕量分析。

   使用领域包括分析石油,燃料,塑料,橡胶,纺织品,医药产品,食品,化妆品和身体护理产品,化肥,地质材料矿石,炉渣,水泥,耐热材料,玻璃,陶瓷,催化剂,硅片;测定纸张,薄膜,聚酯涂料,金属和合金,玻璃和塑料;取证监测固体废物和污水。