SAXS

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  小角X射线散射技术研究胶粒尺寸结构特点。它是由低发散X射线束聚焦到样品,观察由样品内的电子密度不均匀性产生的相干散射图样。

 

 

 

  通常分析尺寸远大于特征X射线波长(1.54 Å, Cu),在小角散射范围内分析从几十到上千埃的尺寸。

  角度范围或图样分析使用晶粒大小之和散射角度之间的反比关系来区分已知样品的形状和尺寸特点。

 

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