首页 > XRF > 研究和开发分析
研究和开发分析

元素或薄膜厚度/组成无损分析是研发项目的核心。波长色散X射线荧光(WD-XRF)是灵敏度最高符合这些分析的最佳方法。除了卓越的精度和宽广的元素测量范围,XRF还是无损分析可以为后期研究保留样品。为研究和开发的应用理学技术具有以下特点:

  • 上照或下照光路可依应用选择

  • 小样品分析

  • Mapping

  • 无需消化或湿法化学处理

  • 低检测限

  • 卓越的轻元素灵敏度

  • 无标样分析


请联系理学索取研发使用应用报告。

 

XRF