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Mapping分析

元素或薄膜厚度/组成无损分析是许多分析程序的中心。理学提供波长色散型X射线荧光光谱仪可以自动测量样品表面微小点(最小500mm)并且在放大样品图像上绘制化学或相分布结果。该技术在很多领域都有应用。

  • 地质和矿物- 研究夹杂物

  • 合金分析- 研究夹杂物

  • 薄膜分析

  • 研发–异常检测


请联系理学索取Mapping分析应用报告。

 

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