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地质分析

在研究行星进程和地球构造过程中,地理学家们需要分析岩石和矿物样品的组成。这些分析可以通过X射线荧光光谱仪实现,无需破坏或改变样品是地质界特别感兴趣的技术。理学的专业技术为这些判定提供一系列解决方案:

  • 表面元素/相分布

  • 夹杂物分析

  • 上照或下照光路可依应用选择

  • 样品分析

  • 使用简单

  • 快速,灵活半定量分析


使用Mineral-Pak 确保未知和日常地化分析的精度和准确度。他以波长色散X射线荧光和固体样品痕量分析为基础。无需危险化学品或酸消解。样品准备简单,安全无经验用户也可操作。 
请联系理学索取地质分析应用报告。

 

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