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地质,矿产和采矿

在研究行星进程和地球构造过程中,地理学家们需要分析岩石和矿物样品的组成。X射线分析技术如:小点激发,分布分析和无标定量分析,日渐成为地质研究的主要工具。X射线荧光(XRF)是描述地质材料元素组成的关键技术。最新一代的波长色散型XRF仪器具有微小区域分析和XY自动样品台实现样品组成分布情况分析。X射线衍射仪(XRD)可定量测量相组成。X射线衍射数据的Rietveld分析被认为是晶体相定量分析最适合的方法。理学的专业技术和经验为这些判定提供了一系列解决方案。 


XRF
  • 低成本: Primini

  • Mapping: ZSX Primus, ZSX Primus II

  • 无标分析: Primini, ZSX Primus, ZSX Primus II , Simultix 14

  • 上照式光路用于压片或熔片分析: ZSX Primus II

  • 夹杂物分析: ZSX Primus, ZSX Primus II

  • 高通量: Simultix 14

  • 全自动: ZSX Primus, ZSX Primus II, Simultix 14


XRD
  • 低成本分析: MiniFlex II™

  • 微区衍射: RAPID II

  • 高性能分析: SmartLab®, Ultima IV

 

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