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理学电企仪器(北京)
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取证

长期以来,X射线分析方法作为刑事或民事法庭调查和建立事实的重要工具。执法在当地,区,市,国家和国际及客户办公室,通常使用X射线工具辨别,对比或分析未知材料。小点X射线荧光是无损方法不仅可以识别和定量大量元素并且描绘元素分布图。常见应用包括衣服上的弹孔Pb和Cu残留的分布,玻璃碎片分析,墨水成分和残留分析。X射线衍射可以识别完全未知的化学相。这两项技术,无需标样即可获得定量结果。理学的专业技术和经验为取证应用提供了一系列解决方案: 


XRF
  • 低成本: Primini

  • Mapping: ZSX Primus, ZSX Primus II

  • 无标分析: Primini, ZSX Primus, ZSX Primus II


XRD
  • 低成本分析: MiniFlex II™

  • 微区衍射: RAPID II

  • 高功率 θ/θ测角仪系统: TTRAX III

  • 高性能 XRD: Ultima IV

 

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