领域

理学电企仪器(北京)
有限公司 

地址:北京市海淀区西直门外大街168号,腾达大厦2601A 
电话: 010-88575768 

首页 > 领域 > 涂层
涂层

现代生活的每个环节都得益于涂层或薄膜技术。无论是集成电路芯片上的阻挡层薄膜还是铝制饮料罐上的涂层,X射线是研发,产品过程控制和质量保证不可缺少的分析技术。X射线荧光(XRF)可以确定涂层的厚度和元素组成。通常在半导体生产过程中作为计量工具,X射线反射被用于测量多层膜厚也用于表征镀层的其他属性如粗糙度和夹层扩散。作为纳米技术研究的领导者,X射线衍射(XRD)和附属技术被用于确定薄膜分子结构的性质。理学专业的技术和经验为涂层和薄膜测量提供各种无损分析解决方案。 


解决方案:
  • 自动XRD 和 XRR: SmartLab®

  • 高功率θ/θ测角仪系统: TTRAX III

  • 高性能XRD和XRR: Ultima IV

  • 台式分析: MiniFlex II™

  • 低消耗XRF: Primini

  • 高性能: ZSX Primus, ZSX Primus II
     

 

领域