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半导体计量

  理学是设计和制造以X射线为基础测量工具的前驱者和领导者。在半导体领域有将近30年的全球市场领先地位,我们的产品家族从工厂生产控制到产品研发用于薄膜和材料的表征。

 

系统
  • 实验室高分辨XRD: SmartLab®, Ultima IV

  • 高功率 θ/θ测角仪系统: TTRAX III

 

XRD