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Rietveld 分析

  Hugo Rietveld 发明,全谱拟合结构精修被广泛接受,它是几乎所有晶体材料结构分析极具价值的方法。Rietveld分析类似于X射线荧光(XRF)的基本参数法。 这个软件细化各种参数——包括:晶格参数,峰的宽度和形状,择优取向——推导计算衍射图样。一旦派生图样与位置样品数据几乎相同,可获得样品各种属性包括:精确定量信息,晶体尺寸。提炼图样的过程是精密计算的过程,要求数分钟内计算出多组分混合结果。与传统定量方法相比,Rietveld分析是先进的,无需标准样品即可得到±1%以内的精确结果。在此之前,使用粉末衍射进行混合材料的无标精确定量分析是几乎不可能的。

 

系统
  • 高功率θ/θ测角仪系统: TTRAX III

  • 微区衍射: RAPID II

  • 台式X射线衍射仪: MiniFlex™

  • 高性能XRD: Ultima IV

  • 多目的高分辨XRD: SmartLab®

 

XRD