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残余应力分析

  残余应力可能产生于材料的生产过程中或在运作多年的结构中积累。在这两种情况下,这种压力可以对产品质量,耐久性和寿命产生严重的负面影响。 在质量控制和预测产品寿命中残余应力的精确检测是尤为重要的。
  X射线衍射(XRD)是目前无损精确测量残余应力的唯一方法。此外,XRD提供了高分辨率非接触测量方式。定期使用XRD检测移动部件表面或特别压力点的残余应力。为了满足这些要求,理学提供多种系统,自由组合并满足各种需要。


系统
  • X射线应力分析仪: PSPC/MSF, MSF/PSF-3M

  • 微区XRD: RAPID II

  • 多目的XRD: Ultima IV
     

 

XRD