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微区衍射

  纳米粒子和纳米晶体材料的粒径大小,形状和结构,包括表面积,溶解度,反射率等影响其物理和化学特性。晶粒尺寸是通过测量晶胞内特定平面的衍射图样中一定宽度的X射线衍射峰来确定的。晶体尺寸与FWHM负相关:峰越窄,晶体尺寸越大。由于晶域的周期性, X射线强度越强,峰越尖锐。如果晶体无缺陷且呈周期性,X射线产生衍射以同样角度穿过多层样品。如果晶体随机排列,或周期性较差,其结果是一个较宽的峰。

 

系统
  • 高功率 (18 kW) θ/θ XRD: TTRAX III

  • 多目的高性能XRD: Ultima IV

  • 全自动XRD: SmartLab®

 

XRD