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结构

  X射线荧光光谱仪(XRF)和X射线衍射仪(XRD)两种常用技术无损确定未知样品组成。X射线荧光光谱仪提供从B到U的成分信息,含量范围从ppm到百分含量。使用基本参数法,XRF提供无标定量分析。X射线衍射提供相结构识别和区分样品中主要,次要,和微量元素的化合物。XRD分析包括矿物名称,化学式,晶体系统,并参考ICDD数据库。XRD使用Rietveld分析也可简单获得定量信息。

 

系统
  • 台式XRD: MiniFlex™

  • 智能XRD: SmartLab®

  • 高性能XRD: Ultima IV

  • 微区衍射: RAPID II

  • 低成本 XRF: Primini

  • 高性能 XRF: Primus, Primus II

  • 高通量 XRF: Simultix 14

 

XRD